ASTM F 1048-1987 用总的集成散射法测量光学元部件有效表面粗糙度的试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-04-19 12:30:11  浏览:9045   来源:标准资料网

【英文标准名称】:TestMethodforMeasuringtheEffectiveSurfaceRoughnessofOpticalComponentsbyTotalIntegratedScattering
【原文标准名称】:用总的集成散射法测量光学元部件有效表面粗糙度的试验方法
【标准号】:ASTMF1048-1987
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1987
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:光学元部件;光学;电子工程;表面粗糙度;测量;表面;试验;精整;效率
【英文主题词】:surfaceroughness;surfaces;measurement;efficiency;finishes;electronicengineering;testing;opticalcomponents;optics
【摘要】:
【中国标准分类号】:N30
【国际标准分类号】:37_020
【页数】:4P;A4
【正文语种】:英语